
局部放電檢測(cè)
脈沖電流法的檢測(cè)原理大致為:絕緣介質(zhì)發(fā)生局部放電的時(shí)候,會(huì)在介質(zhì)兩端產(chǎn)生視在電荷,此時(shí)在介質(zhì)的兩端建立電流回路,則該回路上就會(huì)有脈沖電流的產(chǎn)生。通過(guò)測(cè)量該回路上檢測(cè)阻抗的脈沖電壓,就可以實(shí)現(xiàn)局部放電的測(cè)量。
脈沖電流法的測(cè)量電路一般有兩種,如圖所示。圖中Z表示濾波器,Cx為檢測(cè)的試樣,Ck為耦合電容,Zm為檢測(cè)阻抗圖(a)為并聯(lián)測(cè)試的電路,適用于試樣的電容較大,在試驗(yàn)中容易被擊穿,或者試樣不能與接地極分開(kāi)的情況,此電路在工程實(shí)際中應(yīng)用較多;圖(b)為串聯(lián)測(cè)試電路,適用于試樣的電容Cx較小,擊穿電壓較高的情況,其優(yōu)勢(shì)是可以使用雜散電容來(lái)作為耦合電容Ck,同時(shí)該電容還具有濾波的功能。

脈沖電流法的測(cè)量電路